Particle Counter（顆粒檢測(cè)）
涌淳半導(dǎo)體專注于半導(dǎo)體工藝設(shè)備的研發(fā)、制造、銷售及售后一體化服務(wù)，提供半導(dǎo)體廠商工藝設(shè)備的一站式解決方案。
關(guān)鍵詞：
半導(dǎo)體設(shè)備、半導(dǎo)體工藝
所屬分類：
產(chǎn)品描述
The instrument uses laser beam scanning for detecting defect contamination and displays scan results in color-coded wafer maps, histograms, and summaries.
產(chǎn)品詢價(jià)
Copyright © 2023 涌淳半導(dǎo)體（無錫）有限公司
